ひろしま産学共同研究拠点／透過型電子顕微鏡（TEM）
印刷用ページを表示する掲載日2023年4月10日
機能
日本電子製の300KVのFE-TEM。EDSも付属しているので試料の断面観察から組成分析まで幅広い利用が加工です。
また，各種の試料作製装置を備えているので材料から生物試料まで試料作製も可能です。
メーカ
日本電子（株）
形式
JEM-3000F
設備利用料金
17,500円（１時間） 〔職員が代行操作する場合は別途3,900円（１時間）必要〕
仕様
| 型式 | 日本電子 JEM-3000F |
|---|---|
| 分解能 | 格子分解能 0.102nm，点分解能 0.2nm，STEM-EDS分析 1nm |
| 電子銃 | シットキー型11段加速 |
| 加速電圧 | 297ｋV（通常運用時） |
| 倍率 | 4,000倍～1,200,000倍（TEM），10,000～4,000,000倍（STEM） |
| スポットサイズ | 直径 0.5nm |
| 付属装置 | EDS，GIF（EELS），TEMography（電子線CT），Orius200（CCDカメラ） |
外観
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世界標準のユーザインターフェースGatan-Digital-Micrographを使用して， |
Noran-System-Sixを使用したSTEM-EDS元素マップデータの 主成分分析が可能です。 |
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TEMographyシステムにより数nmの分解能で，３次元立体観察が可能です。 |
撮影は400万画素Orius SC200 CCDカメラの他，Kodak SO163 |