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ひろしま産学共同研究拠点/透過型電子顕微鏡(TEM)

印刷用ページを表示する 掲載日:2017年4月1日更新

機能
 日本電子製の300KVのFE-TEM。EDSも付属しているので試料の断面観察から組成分析まで幅広い利用が加工です。
  また,各種の試料作製装置を備えているので材料から生物試料まで試料作製も可能です。

メーカ
 日本電子(株)

形式
 JEM-3000F

設備利用料金
 14,000円(1時間) 〔職員が代行操作する場合は別途3,700円(1時間)必要〕

仕様
型式日本電子 JEM-3000F
分解能格子分解能 0.102nm,点分解能 0.2nm,STEM-EDS分析 1nm 
電子銃シットキー型11段加速
加速電圧297kV(通常運用時)
倍率4,000倍~1,200,000倍(TEM),10,000~4,000,000倍(STEM)
スポットサイズ直径 0.5nm
付属装置EDS,GIF(EELS),TEMography(電子線CT),Orius200(CCDカメラ)

外観
TEM

利用事例
画像撮影とエネルギーフィルター像,EELSスペクトルの取得が可能Noran-System-Sixを使用したSTEM-EDS元素マップデータの主成分分析が可能

世界標準のユーザインターフェースGatan-Digital-Micrographを使用して,
画像撮影とエネルギーフィルター像,EELSスペクトルの取得が可能です。

Noran-System-Sixを使用したSTEM-EDS元素マップデータの
主成分分析が可能です。
TEMographyシステムにより数nmの分解能で,3次元立体観察が可能撮影は400万画素Orius SC200 CCDカメラの他,Kodak SO163及び三菱MEMフィルムでの撮影が可能

TEMographyシステムにより数nmの分解能で,3次元立体観察が可能です。
広島大学大学院荻崇准教授ご提供,多孔質炭素系ナノ構造体(直径約450nm)。

撮影は400万画素Orius SC200 CCDカメラの他,Kodak SO163
及び三菱MEMフィルム(在庫あり)での撮影が可能です。


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